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Get Features

发表时间:2024-02-14 发表人:兵哥 评论数:0
在与存储设备如 NAND Flash 交互时,"Get Features" 命令用于检索当前设定的设备参数或特性。利用这个命令,系统可以查询设备的运行模式、性能参数、功耗状态等。这些特性可能包括时序设置、驱动强度、内部 ECC 开启状态、以及其他设备具体支持的特性

执行 "Get Features" 命令,系统会发送一个请求到设备,并且设备会提供一个或者多个与查询的特性相关的参数值。

以下是一个示例(伪代码),它演示了如何使用 "Get Features" 命令来获取 NAND Flash 的特定特性。要注意的是,具体实现将取决于你所用 NAND Flash 的技术文档中的指南。


#include <storage_device.h> // 假设有一个库来操作存储设备

// 示例的定义(这些通常应该基于 NAND Flash 的实际规范)
#define GET_FEATURES_COMMAND     0xEE  // 获取功能命令代码
#define FEATURE_ADDRESS_TIMING   0x01  // 特性地址,假设用于获取时序

void getNANDFeatures() {
    // 发送获取特性命令
    sendCommand(GET_FEATURES_COMMAND);

    // 发送要检索的特性地址
    sendAddress(FEATURE_ADDRESS_TIMING);

    // 读取设备返回的特性值
    uint8_t featureValue = getFeatureValue();

    // 处理或显示特性值
    processFeatureValue(featureValue);

    // 我们可能还需要检查设备的状态以确保命令执行没有错误
    checkStatus();
}

// 这里的 sendCommand, sendAddress, getFeatureValue, processFeatureValue 和 checkStatus 
// 需要根据你的 NAND Flash 设备规格来实现。


在上面的代码中,sendCommand 发送 "Get Features" 的命令到 NAND Flash,sendAddress 发送想要查询的特性的地址,getFeatureValue 读取设备返回的值,processFeatureValue 处理或者展示读取的值。checkStatus 用于检测命令执行的状态。

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